隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和微電子技術(shù)的迅速發(fā)展，ad芯片/DA芯片測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用也越來越廣泛，將自動(dòng)化測(cè)試引入AD芯片/DA芯片的制造過程，其主要目的還是為芯片質(zhì)量與可靠性提供一種度量。今天介紹一款NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，正是可以對(duì)AD芯片/DA芯片進(jìn)行自動(dòng)化的測(cè)試。

　　芯片需要做哪些測(cè)試呢？主要分三大類：芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試，芯片產(chǎn)品要上市三大測(cè)試缺一不可。

　　功能測(cè)試看芯片對(duì)不對(duì)九游會(huì)j9網(wǎng)站首頁

　　性能測(cè)試看芯片好不好

　　可靠性測(cè)試看芯片牢不牢

　　1、NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行功能測(cè)試：就是測(cè)試AD芯片/DA芯片的參數(shù)、指標(biāo)、功能：例如位數(shù)、采樣率、輸入或輸出極性、范圍、輸出速度、精度等參數(shù)，從而判斷AD芯片/DA芯片的質(zhì)量。其工作原理就是搭建一個(gè)“模擬”的芯片工作環(huán)境，把芯片的接口都引出，檢測(cè)芯片的功能，或者在各種嚴(yán)苛環(huán)境下看芯片能否正常工作j9游會(huì)真人游戲第一品牌。

　　2、NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的可靠性測(cè)試：在AD芯片/DA芯片制造過程中由于制造工藝和制造環(huán)境等多種原因，可能會(huì)使制造后的電路出現(xiàn)各種各樣的物理缺陷，比如線與線之間、層與層之間出現(xiàn)短路或者出現(xiàn)開后等，這都會(huì)導(dǎo)致制造后的AD芯片/DA芯片與預(yù)期不符，甚至影響到整機(jī)的工作。提高電子元器件的可靠性。

　　3、NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的失效測(cè)試：要使AD芯片/DA芯片可以可靠的工作，還要分析確定其失效機(jī)理，找出失效原因，從而實(shí)施糾正措施。NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)最終的失效原因，提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)。

　　4、NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的老化測(cè)試：可完成在不同的溫濕度環(huán)境、振動(dòng)環(huán)境下，自動(dòng)測(cè)試并實(shí)時(shí)采集AD芯片/DA芯片的老化特性的性能指標(biāo)數(shù)據(jù)。壓源控制電路在控制器的控制下，控制電壓的通和斷，從而為芯片的老化測(cè)試提供了使芯片在短時(shí)間內(nèi)不斷的經(jīng)歷上電和掉電過程的測(cè)試環(huán)境，信號(hào)檢測(cè)電路檢測(cè)該芯片老化測(cè)試數(shù)據(jù)，通過對(duì)該測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，即可得到芯片的老化性能，從而得到芯片的使用壽命。

　　以上就是NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)AD/DA芯片進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的方案分享，這是一個(gè)快速發(fā)展的時(shí)代，自動(dòng)化的測(cè)試終將取代傳統(tǒng)手工的測(cè)試，帶給我們更多驚喜。