【專欄：汽車芯片認(rèn)證】

　　智能駕駛?cè)斯ぶ悄苄酒挠嬎阈阅軠y試研究

　　趙瑞1 夏顯召1 吳海文2* 李予佳1 王清揚(yáng)1 翟瑞卿1 李明陽1 郝晶晶3

　　〔1.中汽研軟件測評（天津）有限公司；2.國家市場監(jiān)督管理總局認(rèn)證認(rèn)可技術(shù)研究中心；3.中國汽車技術(shù)研究中心有限公司〕

　　摘要

　　智能駕駛汽車發(fā)展迅速，對汽車人工智能（Artificial Intelligence，AI）芯片的計算性能要求持續(xù)提升，也引發(fā)了行業(yè)對于驗證芯片計算性能是否滿足實際應(yīng)用需求的關(guān)注。然而，目前現(xiàn)有研究多為通用性計算性能測評方法，針對汽車領(lǐng)域應(yīng)用的AI芯片計算性能有待研究。本文基于這一行業(yè)問題，對測試模型進(jìn)行調(diào)研，提出了一套面向智能駕駛應(yīng)用的AI芯片計算性能測試方法，并選取典型模型對實際產(chǎn)品進(jìn)行測試，對比分析不同芯片各模型下的測試結(jié)果。本文研究內(nèi)容對于汽車行業(yè)進(jìn)行AI芯片選型也具備重要的參考價值。

　　關(guān)鍵詞：智能駕駛，人工智能芯片，測試評價，計算性能，芯片選型

　　作者簡介

　　趙瑞，碩士研究生，主要從事汽車芯片檢測技術(shù)研發(fā)，牽頭及參與制定10余項汽車芯片行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，參與國家重點研發(fā)計劃、省部級重大科研計劃等課題。

　　吳海文，通信作者，博士研究生/博士后，正高級工程師，從事合格評定政策與技術(shù)研究。

　　基金項目：本文受市場監(jiān)管總局技術(shù)保障專項“汽車芯片安全可靠性認(rèn)證技術(shù)及通用審查方法研究”（項目編號：2023YJ38）資助。

　　0 引言

　　0 引言

　　1 智能駕駛AI芯片

　　2 AI芯片計算能力測試研究現(xiàn)狀

　　3 測試方法論

　　4 測試結(jié)果5 結(jié)論

　　參考文獻(xiàn)

　　[1] 商惠敏.人工智能芯片產(chǎn)業(yè)技術(shù)發(fā)展研究[J].全球科技經(jīng)濟(jì)瞭望,2021,36(12):24-30.

　　[2] 葛悅濤,任彥.2020年人工智能芯片技術(shù)發(fā)展綜述[J].無人系統(tǒng)技術(shù),2021,4(12):14-19.

　　[3] 張?zhí)炖?任秉韜,鄭思儀,等.中國智能駕駛2107發(fā)展報告[M].北京：電子工業(yè)出版社，2018.

　　[4] IGNATOV A,TIMOFTE T,KULIK A,et al.AI benchmark:All about deep learning on smartphones in 2019[EB/OL].[2022-07-08].https://arxiv.org/pdf/1910九游會j9官網(wǎng)真人游戲第一品牌. 06663.pdf.

　　[5] GitHub Copilot X. MLPerf[EB/OL].[2022-07-08].https://github.com/mlperf.

　　[6] 國際電信聯(lián)盟第十六研究組.Metrics and evaluation methods for a deep neural network processor benchmark:ITU-T F.748.11[S].Switzerland: International Telecommunication Union, 2020.九游會j9官網(wǎng)真人游戲第一品牌

　　[7] 中國信息通信研究院.YD/T 3944—2021,人工智能芯片基準(zhǔn)測試評估方法[S].北京:中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會,2021.

　　[8] 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院.T/CESA 1119-2020,人工智能芯片 面向云側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法[S].北京:中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會,2020.

　　[9] 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院.T/CESA 1120-2020,人工智能芯片 面向邊緣側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法[S].北京:中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會,2020.

　　[10] 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院.T/CESA 1121-2020,人工智能芯片 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法[S].北京:中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會,2020.

　　訂閱聯(lián)系

　　聯(lián)系人：馬磊

　　電 話：010-56597345

　　聯(lián)系人：高鵬

　　電 話：010-56597343

　　郵 編：102218

　　地 址：北京市昌平區(qū)天通中苑51號3層

　?。c擊上方↑↑↑圖片下載訂閱回執(zhí)）

　?。c擊上方↑↑↑圖片開始投稿）

　　-THANKS FOR READING-

　　來源 |《標(biāo)準(zhǔn)科學(xué)》2024年第10期

　　長按二維碼，關(guān)注

　　“中國標(biāo)準(zhǔn)化”

　　「中國標(biāo)準(zhǔn)化」旗下刊物

　　《中國標(biāo)準(zhǔn)化》

　　《中國標(biāo)準(zhǔn)化》海外版

　　《標(biāo)準(zhǔn)科學(xué)》

　　《標(biāo)準(zhǔn)生活》

　　《產(chǎn)品安全與召回》

　　關(guān)注「中國標(biāo)準(zhǔn)化 」微信公眾號，獲取更多標(biāo)準(zhǔn)化重要信息！